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[2A05] 400MeV-3GeV陽子におけるAl(p,xp)反応の二重微分断面積(DDX)の測定
(1)400MeV陽子を用いた試験
キーワード:Al(p,xp)反応、二重微分断面積、PHITS、数GeV領域、準弾性散乱、弾性散乱
人工衛星搭載センサー開発などの宇宙利用開発のため、J-PARCにおける数百MeVから数GeVにわたる陽子利用の需要が高い。3NBTのビームダンプには、窓として用いられるAl製の窓が用いられており、この窓のAl(p,xp)反応による二次陽子を大気中に設置した検出器で測定した。検出器には、5段のdE-Eからなるプラスティクシンチレータを用い、角度約13度で測定した。測定で得た陽子スペクトルの形状は、弾性散乱および準弾性散乱からなる準単色ピークを有することが確認でき、400 MeV陽子の場合にはカロリメトリックに測定できた。以上の結果により、J-PARCのビームダンプ部において数GeV領域の人工衛星搭載センサーの試験が行えることを示した。