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[2J10] 低温イオン照射による鉄基合金の照射損傷モデルの検証
キーワード:照射損傷
NRTモデルは 材料変化に影響を与える照射環境の指標として長らく利用されてきたが、最近では 系統的な分子力学シミュレーションに基づいて 改良されたモデルも提案されている。著者らは SRIMコードの 出力の補正と、過去に実施した低温イオン照射による残留電気抵抗率測定実験の再解析を行い、これらのモデルの有効性の確認した。異なるイオン種に対する評価では、軽イオンで実効はじき出し損傷量の実験値とシミュレーション結果に有意な違いが認められた