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セッション3 : 先端電子顕微鏡と計測インフォマティクス

セッション3 : 先端電子顕微鏡と計測インフォマティクス

2021年3月5日(金) 15:40 〜 17:00 online1 (Zoom)

15:40 〜 16:15

[S3] 機械学習を用いたEELS スペクトルの解析
Analysis of EELS spectrum using machine learning

*溝口照康 (1. 東京大学)

16:15 〜 16:35

[O5] ミリeV 分解能 (S)TEM-EELS
Milli-eV resolution (S)TEM-EELS

*吉川純 (1. NIMS)

16:35 〜 16:55

[O6] ピクセル型検出器による4DSTEM 計測
4DSTEM measurement using STEM pixelated detector

*三石和貴 (1. NIMS)

16:55 〜 17:00

[CL] 閉会挨拶