30. 計測

[1Pos234] 深層学習を用いたXFEL 単粒子解析実験の回折パターンの選別／Deep learning strategy for identifying hit diffraction patterns in experimental single particle XFEL data

〇中野 美紀¹、ダスグプタ バスカー²、サンデヒャ ティワリ³、宮下 治¹、タマ フロハンス^1,4,5 (1.理研・計算科学研究センター、2.東京大・先端科学技術研究センター、3.大阪大・蛋白質研究所、4.名古屋大・院理、5.名古屋大・トランスフォーマティブ生命分子研究所)