分析化学

[1G3-35] 走査プローブ顕微鏡型表面元素分析法XANAMの像解析法の改良

01.口頭A講演

○鈴木 秀士・向井 慎吾・田 旺帝・野村 昌治・朝倉 清高 (名大院工・北大触媒科学研・国際基督教大教養・高エネ研)

PC接続時間：14:30～14:40

キーワード：表面元素分析、高空間分解能、非破壊分析、非接触原子間力顕微鏡、放射光X線