09:40 〜 09:50
[4D3-05] 制限背面電極型素子を用いた蓄積電荷測定
口頭A講演
PC接続時間:08:50~09:00
キーワード:電荷注入障壁、蓄積電荷測定法(ACM法)、制限背面電極型素子
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アカデミック・プログラム(AP)
物理化学―物性
2019年3月19日(火) 09:00 〜 12:00 D3 (3号館 (3F) 333)
4D3-01~4D3-06 立川 貴士
4D3-08~4D3-11 小簑 剛
4D3-14~4D3-18 川上 貴資
午前
09:40 〜 09:50
PC接続時間:08:50~09:00
キーワード:電荷注入障壁、蓄積電荷測定法(ACM法)、制限背面電極型素子
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