セッション8（学生講演／一般講演）

[S8-1_1_24(学生講演)] オペランドX線CT法を用いたシリコン膨張収縮に伴う固体電解質接触界面の解析

〇松本 真緒¹、作花 勇也¹、鐘 承超¹、下田 景士¹、岡崎 健一¹、山重 寿夫²、折笠 有基¹ (1. 立命館大学、2. トヨタ自動車)