単色Ｘ線を用いた粉末XRD 測定技術について

講演情報

分析

2017年6月14日(水) 13:00 〜 17:30 6階ホール6A (TKP市ヶ谷)

司会：長井陽一（DOWAテクノロジー（株））、永岡信（三井金属鉱業（株））、樫村寛（JX金属（株））、佐々木公司（住友金属鉱山（株））、稊伸一郎(三菱マテリアル（株））

14:25 〜 14:50

[1TKP6A01-11-05] 単色Ｘ線を用いた粉末XRD 測定技術について

○小野勝史¹、林　一英² (1. 住友金属鉱山(株) 評価技術部市川評価技術室、2. 住友金属鉱山(株)電池研究所)

司会：永岡信（三井金属鉱業（株））

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