14:25 〜 14:50
[10401-12-05] 四重極型 ICP 質量分析装置によるクールプラズマ法での高純度材料中の微量不純物分析
司会:長井 陽一（DOWAテクノロジー）
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分析
2018年6月13日(水) 13:00 〜 17:45 ホール6C (TKP市ヶ谷6階)
司会:山田 正（三菱マテリアル）、長井 陽一（DOWAテクノロジー）、永岡 信（三井金属鉱業）、樫村 寛（JX金属）、佐々木 公司（住友金属鉱山）
14:25 〜 14:50
司会:長井 陽一（DOWAテクノロジー）
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