13:50 〜 14:15
[1bunseki01-12-04] 集束オンビーム (FIB) 加工観察装置を用いた3次元観察
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分析
2020年6月10日(水) 12:50 〜 17:30 TKP市ヶ谷 (6階ホール6C)
司会:樫村 寛(JX金属（株）)、長井 陽一(DOWAテクノロジー株式会社)、永岡 信(三井金属鉱業（株）)、藤田 義雄(住友金属鉱山株式会社)、富岡 賢一(三菱マテリアル株式会社)
13:50 〜 14:15
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