2019年10月3日(木) 13:45 〜 15:45Annex Hall 1 (Kyoto International Conference Center)
スケジュール
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13:45 〜 15:45
[Th-P-41] Short Circuit Ruggedness of 600 V SiC Trench JFETs
*Vinoth Kumar Sundaramoorthy1, Lukas Kranz1, Stephan Wirths1, Marco Bellini1, Gianpaolo Romano1, Enea Bianda1, Lars Knoll1, Andrei Mihaila1(1. ABB Switzerland Ltd(Switzerland))