IVC-22

講演情報

Parallel Sessions

Scanning Probe Microscopy

[Mon-C1] Scanning Probe Microscopy

2022年9月12日(月) 13:15 〜 15:15 Room C (Mid-sized Hall A)

14:45 〜 15:00

[Mon-C1-6] Insights into Nanoscale Mechanical Responses at Nanoparticle/Epoxy Interface Using Various AFM Approaches

*Hung Kim Nguyen1, Ken Nakajima1 (1. Department of Chemical Science and Engineering, Tokyo Institute of Technology (Japan))

キーワード:Bimodal AFM, nano-DMA, epoxy nanocomposite

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