IVC-22

講演情報

Parallel Sessions

Scanning Probe Microscopy

[Mon-C2] Scanning Probe Microscopy

2022年9月12日(月) 15:30 〜 17:30 Room C (Mid-sized Hall A)

15:45 〜 16:00

[Mon-C2-2] Simultaneous surface charge density and elasticity mapping by force mapping using frequency-modulation AFM in liquids

*Hiroaki Kominami1, Kei Kobayashi1, Hirofumi Yamada1 (1. Kyoto University (Japan))

キーワード:AFM, force mapping

要旨・抄録、PDFの閲覧には参加者用アカウントでのログインが必要です。参加者ログイン後に閲覧・ダウンロードできます。
» 参加者用ログイン