IVC-22

講演情報

Parallel Sessions

Scanning Probe Microscopy

[Mon-C2] Scanning Probe Microscopy

2022年9月12日(月) 15:30 〜 17:30 Room C (Mid-sized Hall A)

16:30 〜 16:45

[Mon-C2-5] Award Applied
A polymer melt on mica and graphite investigated by bimodal AFM with a long probe qPlus sensor

*Yuya Yamada1, Takashi Ichii1, Toru Utsunomiya1, Hiroyuki Sugimura1 (1. Kyoto University (Japan))

キーワード:bimodal AFM, qPlus sensor, polymer melt

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