IVC-22

講演情報

Parallel Sessions

Scanning Probe Microscopy

[Thu-C1] Scanning Probe Microscopy

2022年9月15日(木) 10:15 〜 12:15 Room C (Mid-sized Hall A)

11:00 〜 11:15

[Thu-C1-4] Visualization of Carrier Dynamics in Organic Thin Film Transistors by Time-Resolved Kelvin-Probe Force Microscopy

*Yuki Kono1, Kei Kobayashi1, Hirofumi Yamada1 (1. Kyoto University (Japan))

キーワード:AFM, OTFT

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