スケジュール 6 いいね! 2 コメント (0) [O-047] 植込み型LVADがS-ICDに電磁干渉を与えた一例 ○助田 菜奈, 小川 浩司, 四井田 英樹, 高橋 裕三, 西岡 宏, 紺屋本 哲也, 中崎 宏則, 近藤 智勇, 小宮山 萌実, 服部 希衣子, 前 千力, 木村 裕人, 伊達 圭佑, 柴田 莉沙, 井上 裕之 (国立研究開発法人 国立循環器病研究センター 臨床工学部) 抄録パスワード認証抄録の閲覧にはパスワードが必要です。パスワードは「第30回日本臨床工学会抄録集」の11ページに記載してあります。 パスワード 認証