[P133-KM170] 頭部X線CT検査におけるチルト機構使用時の散乱線測定
Scattered radiation measurement during head X-ray CT examination with tilt mechanism.
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一般演題(電子ポスター)
一般演題(電子ポスター(研究))
Sat. Nov 2, 2024 1:45 PM - 2:15 PM 第9会場 (展示場2階②)
座長:後藤 賢一(愛知学院大学歯学部附属病院 放射線技術部)
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