第55回地盤工学研究発表会

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一般セッション

3. 地盤材料

粘性土-変形・物理化学的性質

2020年7月21日(火) 10:50 〜 12:20 第1

[21-1-2-08] 全自動式粒子画像解析法による硅砂細粒分の形状評価と解析個数の妥当性に関する検討

*笹倉 大督1、早内 愛子1 (1. スペクトリス株式会社　マルバーンパナリティカル事業部)

キーワード：粒子形状、画像解析、計測個数

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