10:00 AM - 10:15 AM
[12D1-01] バウンダリスキャンテスト回路を用いた待機モード時電気試験を可能にするTAPCの開発
Abstract password authentication.
Password is required to view the abstract. Please enter a password to authenticate.
Oral presentation
講演セッション » バウンダリスキャン設計
Tue. Mar 12, 2019 10:00 AM - 10:45 AM D会場 (E館E608)
座長:亀山 修一
10:00 AM - 10:15 AM
Abstract password authentication.
Password is required to view the abstract. Please enter a password to authenticate.