第34回エレクトロニクス実装学会春季講演大会

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一般演題

講演セッション » 複合

検査技術・バウンダリスキャン技術

Wed. Mar 4, 2020 9:45 AM - 10:45 AM C会場 (A棟A105)

座長:亀山 修一

10:15 AM - 10:30 AM

[4C1-03] バウンダリスキャンを用いたテスト手法に関する教育システムの開発

〇土屋 秀和1、永尾 崇1、浅川 毅1 (1. 東海大学)

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