[G] 組織・観察・分析

2019年9月13日(金) 13:00 〜 15:10 B会場 (一般教育棟C棟2階C25)

座長:保田英洋(大阪大学)、奥田浩司(京都大学)

13:00～保田英洋
14:10～奥田浩司
※表示の講演時間には質疑応答時間も含みます。
（質疑応答時間５分、基調講演と村上記念賞受賞講演は5～10分、技術開発賞は質疑時間なし）

13:00 〜 13:15

[44] EBSD測定とFIB/(S)TEM観察法によるβ-Ga₂O₃基板の加工損傷層の評価

*田中孝治¹、伊藤利充² (1. 産総研　電池技術研究部門、2. 産総研　電子光技術研究部門)

13:15 〜 13:30

*大塚岳志¹、大竹祐香¹、原昌也¹、太田康則¹、宮澤聡¹ (1. 日本電子)

13:30 〜 13:45

*松谷亮輔¹、古谷玲¹、服部夏美¹、尾中晋² (1. 東工大（院生）、2. 東工大（物質理工）)

13:45 〜 14:00

*林杉¹、奥田浩司²、松本克史⁴、佐藤和史^3,4 (1. 京大工(院生)、2. 京大工、3. 神鋼、4. コベルコ科研)

休憩 (14:00 〜 14:10)

14:10 〜 14:25

*古川大希¹、市川修平²、佐藤和久²、今村真幸³、高橋和敏³、保田英洋² (1. 阪大工(院生)、2. 阪大電顕センター、3. 佐賀大学シンクロトロン)

14:25 〜 14:40

*平野主馬¹、佐藤博隆²、伊藤大介³、齋藤泰司³、加美山隆² (1. 北大工(院生)、2. 北大工、3. 京大複合研)

14:40 〜 14:55

*佐々木志帆¹、山口明²、野中勝彦² (1. 岩手大(院生)、2. 岩手大理工)

14:55 〜 15:10

*李浩歌¹、上島伸文²、及川勝成² (1. 東北大工（院生）、2. 東北大工)