2019 Fall Annual(165th) Meeting

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General Session

9.Electric/Magnetic Materials » Electric/Electronic/Optical Materials

[G] Semiconductors & Functional Materials

Fri. Sep 13, 2019 9:00 AM - 11:55 AM E (D22 at 1st Flr. Building D for General Education)

座長:田中 秀和(大阪大学)、石川 史太郎(愛媛大学)

10:25 AM - 10:40 AM

[163] フレキシブル2Dセンサーを用いる金属表面のテラヘルツ非破壊検査

*TANABE Tadao1, LI Kou3, KAWANO Yukio2, OYAMA Yutaka1 (1. 東北大院工、2. 東工大未来研、3. 東工大未来研(院生))

Keywords:テラヘルツ、半導体デバイス、非破壊検査、社会インフラ、カーボンナノチューブ

テラヘルツ発振器と2次元にアレイ化したカーボンナノチューブテラヘルツ検出素子を組み合わせた反射光学系を構築し、金属表面の損傷や液滴に対する非破壊検査を実証した。

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