日本金属学会 2019年秋期(第165回)講演大会

講演情報

一般講演

9.電気・磁気 関連材料 » 電気・電子・光関連材料

[G] 半導体・機能性材料

2019年9月13日(金) 09:00 〜 11:55 E会場 (一般教育棟D棟2階D22)

座長:田中 秀和(大阪大学)、石川 史太郎(愛媛大学)

10:25 〜 10:40

[163] フレキシブル2Dセンサーを用いる金属表面のテラヘルツ非破壊検査

*田邉 匡生1、李 恒3、河野 行雄2、小山 裕1 (1. 東北大院工、2. 東工大未来研、3. 東工大未来研(院生))

キーワード:テラヘルツ、半導体デバイス、非破壊検査、社会インフラ、カーボンナノチューブ

テラヘルツ発振器と2次元にアレイ化したカーボンナノチューブテラヘルツ検出素子を組み合わせた反射光学系を構築し、金属表面の損傷や液滴に対する非破壊検査を実証した。

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