2019 Fall Annual(165th) Meeting

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General Session

9.Electric/Magnetic Materials » Electric/Electronic/Optical Materials

[G] Phase change memory & Supercondctors

Fri. Sep 13, 2019 1:00 PM - 3:15 PM E (D22 at 1st Flr. Building D for General Education)

座長:阿部 世嗣(公益財団法人電磁材料研究所)、藤原 康文(大阪大学)

1:30 PM - 1:45 PM

[170] 逆抵抗変化型Cr2Ge2Te6相変化材料のメモリ特性

*HATAYAMA Shogo1, ANDO Daisuke1, Sutou YuJi1 (1. 東北大工)

Keywords:相変化メモリ、アモルファス、Cr-Ge-Te

Cr2Ge2Te6(CrGT)は多くの相変化材料と異なり、高抵抗の結晶相と低抵抗のアモルファス相とを有する新材料である。本研究では、CrGTを用いてメモリセルを作製し、その動作特性を調査した。

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