[G] Nuclear Materials(2)

[221] 多結晶金属材料中のイオン照射損傷深さ分布の陽電子消滅分光測定

*KINOMURA Atsushi¹, SUZUKI Ryoichi², KOBAYASHI Yoshinori^2,3, YOSHIIE Toshimasa¹, XU Qiu¹, SATO Koichi⁴ (1. 京大複合研、2. 産総研、3. 早稲田大、4. 鹿児島大工)

Keywords:イオン照射、照射欠陥、陽電子消滅分光、深さ分布

イオン照射した純金属材料中の欠陥分布を低速陽電子ビームで調べると、計算より深くまで欠陥が分布することが示された。これは、一部の結晶粒でチャネリングが起きたことが原因であると考えられる。