[G] Nuclear Materials(2)

[226] 陽電子寿命分光法による電子線照射タングステンの空孔回復挙動の評価

*YABUUCHI Atsushi¹, TANAKA Miho¹, KINOMURA Atsushi¹ (1. 京大複合研)

Keywords:タングステン、原子空孔、照射欠陥、陽電子消滅

本研究では、よく焼鈍したタングステンに電子線照射により原子空孔を導入し、等時焼鈍過程における回復挙動を陽電子寿命分光法で評価することで、その回復挙動を調べた。