2019 Fall Annual(165th) Meeting

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General Session

3.Microstructures » Analysis/Characterization/Evaluation

[G] Microstructure Observations and Analyses

Fri. Sep 13, 2019 9:00 AM - 11:40 AM B (C25 at 2nd Flr. Building C for General Education)

座長:坂口 紀史(北海道大学)、波多 聡(九州大学)

9:30 AM - 9:45 AM

[36] 電子線ホログラフィーによるPt/TiO2界面電位分布の計測

*Nakajima Hiroshi1, Yamamoto Mahito2, Tanaka Hidekazu2, Murakami Yasukazu1 (1. 九州大学大学院工学研究院、2. 大阪大学産業科学研 究所)

Keywords:電子線ホログラフィー、金属酸化物界面、電荷移動、空乏層

Pt/TiO2薄膜試料)の界面近傍、特にTiO2領域における電位分布の変化を電子線ホログラフィーで詳細に調べた。

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