日本金属学会 2019年秋期(第165回)講演大会

講演情報

一般講演

3.組織 » 分析・解析・評価

[G] 組織・観察・分析

2019年9月13日(金) 09:00 〜 11:40 B会場 (一般教育棟C棟2階C25)

座長:坂口 紀史(北海道大学)、波多 聡(九州大学)

09:30 〜 09:45

[36] 電子線ホログラフィーによるPt/TiO2界面電位分布の計測

*中島 宏1、山本 真人2、田中 秀和2、村上 恭和1 (1. 九州大学大学院工学研究院、2. 大阪大学産業科学研 究所)

キーワード:電子線ホログラフィー、金属酸化物界面、電荷移動、空乏層

Pt/TiO2薄膜試料)の界面近傍、特にTiO2領域における電位分布の変化を電子線ホログラフィーで詳細に調べた。

抄録パスワード認証
抄録の閲覧にはパスワードが必要です。パスワードを入力して認証してください。

パスワード