日本金属学会 2019年秋期(第165回)講演大会

講演情報

一般講演

3.組織 » 分析・解析・評価

[G] 組織・観察・分析

2019年9月13日(金) 09:00 〜 11:40 B会場 (一般教育棟C棟2階C25)

座長:坂口 紀史(北海道大学)、波多 聡(九州大学)

10:15 〜 10:30

[39] その場電子顕微鏡法によるPtIr 単原子先鋭化チップ形成過程の観察

*落合 祐介1、小尾 拓野2、靏岡 侑生2、木塚 徳志2 (1. 筑波大理工(学生)、2. 筑波大数理)

キーワード:ナノプローブ、SPM探針、白金イリジウム、その場電子顕微鏡法、原子先鋭化チップ

走査プローブ顕微鏡の分解能を飛躍的に改善できる先端を極限まで先鋭化した探針を、高分解能透過型電子顕微鏡法で作製できることを見出した。PtIr単原子先鋭化チップが形成される過程のその場観察について演示する。

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