2:10 PM - 2:25 PM
[90] 高密度配線板用スルーホールビアの長周期クリープ疲労
Keywords:Electroplated copper、Thin film、Tensile Creep、Through hole via、Monkman-Grant relationship
THVの長周期温度サイクル試験を実施し,クリープ疲労寿命の評価方法について検討を行った.温度サイクル寿命では,クリープによる疲労破断寿命の低下が確認され,疲労とクリープの相互干渉効果が示唆された.
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