12:30 PM - 2:30 PM
[P121] Auを用いたMIC法によるGe薄膜の低温結晶化
Keywords:半導体、薄膜、結晶
MIC法による結晶化機構を解明するために、Au薄膜上にGeをスパッタリングで成膜し、アニール中にXRD測定を行った。その結果、150℃~160℃付近でGe(111)面のピークが増大し、Au(111)面のピークが減少した。
Abstract password authentication.
Password is required to view the abstract. Please enter a password to authenticate.