[S5] S5 New Aspect of Materials Science Based on Advanced Nanostructure Analyses(1)

[S5.14] グラフェン欠陥における電場構造解析

*ISHIKAWA Ryo^1,2, FINDLAY Scott³, SEKI Takehito¹, SANCHEZ-SANTOLINO Gabriel¹, KOHNO Yuji⁴, IKUHARA Yuichi^1,5, SHIBATA Naoya^1,5 (1. 東京大工、2. JSTさきがけ、3. モナッシュ大、4. JEOL、5. JFCC)

Keywords:グラフェン、原子電場、点欠陥

単層グラフェン中に形成された点欠陥の電場構造を解析するため、原子分解能での微分位相コントラスト法を用いた走査透過型電子顕微鏡による直接観察を行った。