[P] P34~P37

[P36] Detection of microstructural evolution upon hydrogen loading in V thin films by Acoustic Emission measurements

*TAKUMI YAMADA¹, RYOTA GEMMA¹ (1. Tokai Univ.)

Keywords:水素貯蔵材料、薄膜工学、アコースティックエミッション

DCマグネトロンスパッタリング法により作製した膜厚の異なるV薄膜について、測距計を用いた応力測定法の2つを用いて水素吸蔵時のその場測定を行い、水素吸蔵に伴う微細組織変化についてAE法を用いて検出を試みた。