[P] P73~P74

[P73] δ-Sc₄Hf₃O₁₂における照射誘起構造変化の透過電子顕微鏡法による解析

*眞子 大輝¹、石丸 学² (1. 九州工大(院生)、2. 九州工大)

キーワード：原子力材料、照射効果、透過電子顕微鏡、組織観察・分析、セラミック材料

高レベル放射性廃棄物のガラス固化体の代替材料として注目されている結晶セラミックス固化体において、δ-Sc₄Hf₃O₁₂の照射損傷について透過電子顕微鏡を用いて解析を行った。