株式会社TSLソリューションズは、EBSD(Electron BackScatter Diffraction) 法をベースに、走査電子顕微鏡(SEM)/透過電子顕微鏡(TEM) を用いた材料組織観察およびその解析技術に関連した製品の輸入販売、開発・設計・製作、およびそれら製品の技術サポートを行っています。

EBSDパターンの歴史は比較的古いものがありますが、多くの研究者の方に使用していただける商用機としてのEBSD装置が市販され始めたのは1995年のことです。弊社はそれ以来、TexSEM Laboratories 社そしてEDAX/TSL 社のEBSD装置(OIM) の販売、技術サポートに注力してまいりました。また、ダイナミカルに変化する材料組織の一端をEBSD法で捕らえたいという思いからEBSD法用の試料加熱ステージ、試料引張りステージ等In-Situ 試験装置の開発も行ってまいりました。

近年ではより高分解能を求め、TEMを用いEBSD like な組織観察を可能にしたASTAR装置を開発したNanoMegas社の国内代理店となり、TEMにおける組織観察のサポートも行っております。
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info@tsljapan.com
 OIM結晶方位解析装置（Velocity検出器)
EBSD観察用insituステージ（加熱ステージ・引張ステージ）
ASTAR　TEM方位マップ