[P] P42~P55

[P42] EELS analysis of charge state of trace additive elements in high temperature oxide film

*Takahiro Yata¹, Norihito Norihito², Yuji Kunisada² (1. Hokkaido University Faculty of Engineering(graduate Student), 2. Hokkaido University)

Keywords:ステンレス、マンガン、酸化皮膜、STEM

SUS304の酸化皮膜中に含まれる微量添加元素Mnの荷電状態を電子エネルギー損失分光法（EELS）によって測定し、粒界と粒内の荷電状態を解析する。これをマーカーとして皮膜内の酸素ポテンシャル分布の評価を試みる。