[P] P56~P60

[P57] Deep Learningを用いた透過型電子顕微鏡画像解析技術の開発

*國分 悠輔¹、薮内 聖皓³、森下 和功² (1. 京大エネ科（院生）、2. 京大エネ研（准教授）、3. 京大エネ研（助教）)

キーワード：照射欠陥、透過型電子顕微鏡、画像解析技術、Deep Learning、転位

TEMによる照射欠陥の測定・解析は、実験研究者の主観が大きいため、新規参入者のハードルが高く、研究者ごとの結果の差異も大きい。これらを解決するために、Deep Learningを用いた解析技術の開発を目的とした。