[G] Electric/Electronic/Optical Materials

[269] EELS measurement of surface plasmon polariton dark mode in MIM structure

*Kentaro Itaya¹, Norihito Sakaguchi², Yuji Kunisada², Yasutaka Matsuo³ (1. Faculty of Engineering Hokkaido University, Japan,(Master’s degree), 2. Faculty of Engineering Hokkaido University, Japan, 3. RIES, Hokkaido University, Japan)

Keywords:伝播型表面プラズモン、表面プラズモン共鳴、正規モード分裂、STEM-EELS

本研究ではMIM(金属/絶縁体/金属)構造における伝播型表面プラズモンをEELSで実測し、SPP結合モードを直接観測することを試みた。金属層にAg、絶縁体層にSiO₂あるいはAl₂O₃を挟み込んだ構造でEELS測定を実施した。