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[S6.5] STEMその場観察法による積層欠陥の変形過程の直接観察
キーワード:その場、機械試験、STEM、格子欠陥、双晶、金
我々が近年開発した微小電気機械システム(MEMS)並びに走査透過型電子顕微鏡(STEM)を用いたその場機械試験法より,金単結晶を対象として変形に伴う積層構造変化を原子レベルで直接観察することを試みた.
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