[G] 原子力材料

[261] 陽電子消滅法で調べた電子線照射W合金中の空孔型欠陥形成に対するRe添加効果

*外山 健¹、波多野 雄治²、井上 耕治¹、薮内 敦³、木野村 淳³、鈴土 知明⁴、永井 康介⁴ (1. 東北大金研、2. 富山大水素研、3. 京都大複合研、4. 原子力機構)

キーワード：タングステン、照射損傷、電子線照射、陽電子消滅

タングステン合金を電子線照射し、陽電子消滅法で空孔型欠陥を調べた。