[S3] S3.エネルギー関連材料の特性評価・解析・予測(II)

[S3.13] NaAlH₄-TiCl₃の水素放出再吸蔵過程における中性子・X線散乱による構造解析と触媒効果の発現

*池田 一貴^1,2,4、藤﨑 布美佳（院生）³、大友 季哉^1,2,4,5、大下 英敏¹、本田 孝志^1,2,4、川又 透⁶、有馬 寛⁷、杉山 和正⁶、阿部 仁^1,2,5、Kim Hyunjeong⁹、榊 浩司⁹、中村 優美子⁹、町田 晃彦¹⁰、佐藤 豊人⁸、高木 成幸⁶、折茂 慎一⁶ (1. KEK物構研、2. 総研大、3. 総研大（現：（株）本田技研）、4. J-PARCセンター、5. 茨城大、6. 東北大金研、7. 東北大金研（現：総合科学研究機構）、8. 東北大金研（現：芝浦工大）、9. 産総研エネルギープロセス、10. 量研量子ビーム)

キーワード：錯体水素化物、水素貯蔵、中性子回折、X線回折、X線吸収微細構造、X線異常散乱

TiCl₃を添加したNaAlH₄の中性子・X線散乱測定により水素放出吸蔵反応における構造変化を調べて触媒効果が発現する機構を明らかにした。