[S3] Evaluation, analysis, and prediction of energy related materials performance (II)

[S3.16] Quantitative evaluation of lattice defects in in-situ electrical resistance measurement during deformation

*Soichiro TAKENAKA¹, Kazuhiro ISHIKAWA², Yoji MIYAJIMA² (1. Kanazawa Univ.(M1), 2. Kanazawa Univ.)

Keywords:引張試験、電気抵抗、格子欠陥、画像相関法

電気抵抗率は格子欠陥密度によって変化するため，電気抵抗測定によって格子欠陥密度の変化が測定されてきた．そこで，応力印加時に格子欠陥密度を測定することを目的に，引張変形中その場電気抵抗測定を行った．