[P] P153~P177

[P175] Observation of crystal defect in CoCr alloy additively manufactured by STEM and ECCI

*Rie Kudo¹, Takuji Ube¹, Katsumi Yamada¹, Kaoru Sato¹ (1. JFE TECHNO-RESEARCH CORPORATION)

Keywords:STEM、ECCI、転位、積層欠陥、積層造形材

結晶内欠陥の観察は，従来TEMで行われていたが，近年ではバルクの状態で観察ができるECCI法が注目されている．本研究では，STEM像とECC像を同時取得し，像コントラストの違いについて考察した．