[P] P16~P36

[P35] 高濃度の人工ピンを導入したYBa₂Cu₃O_7-x薄膜構造の電子顕微鏡法による解析

*野上 晴菜¹、黒木 優成¹、石丸 学²、堀出 朋哉³、松本 要² (1. 九州工大工（院生）、2. 九州工大工、3. 名古屋大工)

キーワード：人工ピンニングセンター、YBa₂Cu₃O_7-x、透過型電子顕微鏡、高温超伝導体

YBa₂Cu₃O_7-xの臨界電流密度を向上させるため、量子化磁束を固定する人工ピンの導入が行われている。本研究では、高濃度に導入した各種人工ピンの形態や分布を電子顕微鏡技術により調査した。