3:00 PM - 4:30 PM
[P276] Structural analysis of Ba8CuxSi46-x clathrate by Rietveld method using additive averaging
Keywords:熱電材料、構造物性、クラスレート、Rietveld法、加算平均
熱電材料への応用が期待されるBa-Cu-Siクラスレートの構造解析にRietveld法を適用した。XRD測定時のスキャン速度や加算平均の標本数が回折プロファイルのS/N比及び解析における信頼性因子Sに与える影響を調査した。
Please log in with your participant account.
» Participant Log In