[P] P266~P278

[P276] Structural analysis of Ba₈Cu_xSi_46-x clathrate by Rietveld method using additive averaging

*Aoi ANDO¹, Kentaro TAKAGI², Ryusei SAEKI³, Yuko MATSUKAWA³, Makoto ARITA³, Shinji MUNETOH³ (1. Ohita Uenooka High School, 2. Graduate school, Kyushu Univ., 3. Kyushu Univ.)

Keywords:熱電材料、構造物性、クラスレート、Rietveld法、加算平均

熱電材料への応用が期待されるBa-Cu-Siクラスレートの構造解析にRietveld法を適用した。XRD測定時のスキャン速度や加算平均の標本数が回折プロファイルのS/N比及び解析における信頼性因子Sに与える影響を調査した。