[G] 分析・解析・評価

[60] その場電子顕微鏡法による Nb/Hf ナノ接点のパルス波通電観察

*小島 和也¹、久郷 純奈¹、木塚 徳志¹ (1. 筑波大)

キーワード：ナノ接点、Nb-Hf合金、非晶質、透過型電子顕微鏡、パルス通電法

作製した結晶Nb-Hf合金ナノ接点にパルス電圧を印加すると、非晶質組織が現れた。このときのコンダクタンス比（非晶質／結晶）は0.64であった。この比は、Mo を除く他の純金属ナノ接点のそれより小さい。