[G] Melting and solidification process/High temperature process

[334] Heat Capacity Measurement of Si-Ge Melts Using Electromagnetic Levitation Technique under Static Magnetic Field

*Yuri ARAI¹, Makoto Ohtsuka², Masayoshi Adachi², Hiroyuki Fukuyama² (1. 東北大多元研（院生）、2. 東北大多元研)

Keywords:Si-Ge、静磁場印加電磁浮遊法、定圧モル熱容量

Si-50mol%Ge融体の熱伝導率の測定を目的とし、それに必要な定圧モル熱容量C_Pの測定を行った。1544-1800 Kの温度範囲においてC_Pに温度依存性は見られず、平均は31.1 J・mol^-1・K^-1であった。