TEM用イオンミリング装置TEMミル
ダメージのない高品質の透過型電子顕微鏡（TEM）用試料を作製するためのイオンミリング装置です。特許技術のTrueFocusイオン源は、広範な加速電圧に対して細いビーム径を維持します。イオンビームの加速電圧は100eV～10keVの範囲で、ミリング角度は-15°～+10°の範囲で任意に設定出来ますので、試料の高速ミリングから最終ポリッシングまであらゆる工程でご利用頂けます。ロードロック機構（予備排気室）を搭載しており、試料の出し入れを迅速に行うことが可能です。液体窒素冷却システム、ミリング位置微調整ホルダー、真空封入移動カプセルなど、オプション群も充実しています。
 テクノビット
テクノビットシリーズは、短時間で硬化する常温硬化型樹脂です。シリーズの1つである金属組織観察用テクノビットは、光学顕微鏡や電子顕微鏡による分析用試料の埋め込み・研磨に最適な樹脂です。高温や圧力の影響を避けたい時、迅速にサンプルの埋め込みを行いたい時、埋め込み樹脂が硬く耐摩耗性が必要な時など、条件の厳しい試料の埋め込みにも御使用頂けます。多くのラインナップがございますので、用途に応じてお使い分け下さい。