日本金属学会2024年春期(第174回)講演大会

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一般講演

9.Electric/Electronic/Optical Materials » Electric/Electronic/Optical Materials

[G] Electronic Materials/Terahertz Light

Wed. Mar 13, 2024 1:30 PM - 4:45 PM Rm. K (Rm.608, 6th Flr.,Lecture Hall Blg.)

Chair:Yuta Saito

4:00 PM - 4:15 PM

[303] Effect of grain boundary configuration on electrical conductivity of Cu wire

*Kazuhiro KUGE1, Takateru YAMAMURO2, Sadahiro Tsurekawa3 (1. 熊本大学院自然、2. 熊本大技術部、3. 熊本大先端)

Keywords:結晶粒界、電気抵抗率、銅配線

四端子プローブ法を用いてCu粒界の電気伝導性を定量評価した。粒界に沿った電気伝導に着目し,粒界性格の異なる2つの粒界の粒界抵抗率に及ぼす粒界構造の影響を調査した。

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