16:00 〜 16:15
[303] 銅配線の電気抵抗率に及ぼす粒界配置の影響
キーワード:結晶粒界、電気抵抗率、銅配線
四端子プローブ法を用いてCu粒界の電気伝導性を定量評価した。粒界に沿った電気伝導に着目し,粒界性格の異なる2つの粒界の粒界抵抗率に及ぼす粒界構造の影響を調査した。
要旨・抄録、PDFの閲覧には参加者用アカウントでのログインが必要です。参加者ログイン後に閲覧・ダウンロードできます。
» 参加者用ログイン